你剛從傳導發射實驗室拿到測試結果，結果你的產品失敗了。現在怎麼辦？
完整系統的電磁干擾測試一直是一項挑戰。這種測試通常在設計週期結束時進行，如果不通過測試，可能會造成嚴重的延遲。它甚至可能需要對系統進行重大的重新設計才能通過。但也有一些科技可以用來幫助減輕測試失敗對項目時間表和成本的影響。
試驗期間量測的EMI雜訊是系統內產生的所有雜訊的總和。電源開關雜訊是傳導發射的一個來源，但在識別雜訊源和降低雜訊頻譜時，還需要考慮許多其他脈衝電路。
本次網路研討會的內容旨在幫助任何參與 EMI 量測或使用開關電源和任何其他高雜訊、快速開關電路（如電機驅動器、逆變器甚至處理器）的人。
張仁程(Jeff Chang)是 Vicor 台灣區應用工程師，負責對台灣地區客戶技術支援及開發新應用，新市場，及新產品需求。他在電子產業擁有 20 年電源設計經驗，涵蓋手持產品，平板及筆記型電腦，工業產品，以及伺服器等。Jeff Chang 畢業於國立台灣科技大學電子系。
